规格型号 | BOS-DT180 |
执行标准 | ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 |
成像系统 | 测试范围 | 4-400μm |
光学放大倍数 | 150-1000倍可调,大可达1000倍 |
大分辨率 | 0.5μm |
摄像系统 | 重复性误差 | <1% |
准确性误差 | <1% |
光源 | 采用蓝色高亮LED点光源 |
颗粒识别速度 | >10000个每分钟 |
摄像机 | 采用高速摄像机,成像速度不低于120帧每秒 |
进样方式 | 采用鞘流进样方式 |
软件功能 | 粒度分析 | 包括粒度分布、典型值、大粒径、特定区间含量、大于或小于某粒径的含量 |
粒形分析 | 长径比及分布、圆形度及分布、颗粒图像 |
颗粒计数 | 计量一定体积液体中的颗粒个数 |
圆形度分析 | 能快速分析颗粒的圆形度 |
比例尺标定 | 通过guo家标准测微尺标定后,可通过颗粒度标准物质验证系统的准确性。 |
单个颗粒数据 | 可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。 |
任务管理机制 | 严格的任务管理机制,使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。 |
报告输出 | 分析报告可以多种形式呈现,同时可转换成PDF、BMP、Word、Excel等格式 |
整体分布特征参数 | D10、D50(中位径)、D90、D100等颗粒分布的特征参数 |
报告参数 | 整体频率分布累计分布 | 颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。 |
统计平均径 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径 |
形状参数 | 长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据 |
表头输入 | 可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中 |