XDL-B电镀膜厚测试仪

XDL-B电镀膜厚测试仪实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器，世界首创光学准直器，可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（?）至微米（μm），它也能测量多至20个元素的块状合金成分。其准确度、精密度和稳定性是独一无二的。

型号有XDL/XUL系统、WINWIF系统、WIN系统及FIM系统，其最适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。

3. 供应XULM/XDL X射线金属镀层测厚仪（实惠型：小型电镀厂的首选）中国区一级代理

XULM/XDL适用于五金、电镀、LED.精品首饰、电子、手表、电路板等镀层测量,如镀金、银、镍等微小部位的高精度测量。

除以上各类X射线测厚仪，我们还有β射线测厚仪、库仑测厚仪（化学电解式）、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪及微电阻测厚仪等出售。

多年来，深圳市金东霖科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和最优质的服务都得到客户最高的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。联系人：王生：13316557996
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