一、光学轮廓仪产品介绍
光学轮廓仪主要应用于:从小至微米级别的微机电器件(MAMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓、膜厚等数据。对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案。适用于测各种膜,块体样品,表面三维形貌;可以测凹坑深度,凹坑直径范围,膜厚度等;范围可以拼接。
是一种双LED光源的非接触式光学仪器,对样品基本上没有损害。视样品选择不同测量模式。相移干涉模式(PSI)主要用于测量光滑表面粗糙度;垂直扫描干涉模式(VSI)则可以做高度、宽度、曲率半径,粗糙度的计测等。
二、光学轮廓仪测试要求
1. 光学轮廓仪主要测块体样品,尺寸大于1*1cm2,对于非均匀样品,不一定会可以扫到满意结果。一般不测粉末,有需要请提前沟通,粉末需要比较细腻,颗粒平均直径不超过30 μm。
2. 光学轮廓仪测试样品的表面需具有一定的反光率,样品台阶的高度不能大于10mm。
3.光学轮廓仪样品需平整,表面粗糙度小于300 μm;
表面粗糙度小于300μm可以,纳米级别的建议用AFM测试。
测试范围:1mm*1mm,若无特殊要求实验室自行确定,一个样品拍摄位置数目一般拍摄2个,多出2个位置需要加收费用。
三、光学轮廓仪常见问题
1.光学轮廓仪扫描范围是多少?
三维形貌轮廓仪扫描一次范围不超过1.69mm * 1.26mm。
2.光学轮廓仪样品范围较大,怎么办?
如果需测试样品表面范围较大,需进行拼接