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纳米颗粒跟踪分析仪 ZetaView-Particle Metrix
纳米颗粒跟踪分析仪 ZetaView-Particle Metrix
  • 纳米颗粒跟踪分析仪 ZetaView-Particle Metrix

纳米颗粒跟踪分析仪 ZetaView-Particle Metrix

产品报价:1元

更新时间:2024/4/9 14:06:14

地:德国

牌:regenhu

号:Particle Metrix

厂商性质:

公司名称: 北京泽汇商贸有限公司

产品关键词: 不用拆卸 易清洗   荧光标记的纳米颗粒   • 自动校准&自动聚焦   功能一体化  

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郭先生 : (18911815672) (010-83298591)

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纳米颗粒跟踪分析仪 ZetaView-Particle Metrix

Particle Metrix 致力于拓宽ZetaView纳米颗粒追踪分析仪经典型号PMX-120的应用领域,现已将纳米颗粒追踪分析仪从单激光升级为四激光。488nm520nm640nm激发光可在散射模式和荧光模式间自动切换。无论在标准NTAZ-NTA模式下纳米颗粒追踪分析仪均可记录颗粒在散射模式和荧光模式下的运动状态。
 

主要应用

生物纳米颗粒:

细胞外囊泡

外泌体

脂质体&胶束

蛋白质聚集体

病毒&类病毒颗粒(VLPs

药物载体

荧光标记的纳米颗粒

 

技术优点

功能一体化:可一次性完成样品的粒径、浓度、Zeta电位和荧光测试;

扫描式NTA不用额外配件,即可自动在样品池内的11个检测位置依次完成测试,并自动评估样品和数据质量;

全新的固定式样品池模块设计,插入式样品池设计,不用拆卸,易清洗。

?直观的软件:红绿信号指示可以帮用户直接判断当前浓度的样品是否可以测试。

快速测试:1min即可分析1000个左右的样品颗粒。
自动校准&自动聚焦:光学部件可通过仪器软件实现自动校准与优化,节省了用户的实验准备时间,完全避免了可能产生的用户主观偏差。
荧光分析:仪器配备了超灵敏的CMOS相机和更多的荧光滤光片,具有的荧光检测灵敏度,进一步增强了仪器的荧光检测与分析能力。
仪器的防震动设计提高了视频图像的稳定性。

北京泽汇商贸有限公司

| 第2

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