PhenoTron-SR植物表型成像分析系统

PhenoTron-SR植物表型成像分析系统

   系统可同时对作物根系及苗、作物冠层进行表型成像分析。系统由主机系统和光谱成像系统组成。

主要技术特点如下：

1)  可对植物地上部分特和地下根系进行表型性状成像分析

2)  标配为60度倾斜自动扫描成像，同时对根系和幼苗进行高光谱成像分析和RGB成像分析

3)  可选配顶部冠层RGB成像分析、红外热成像分析、高光谱成像分析、叶绿素荧光成像分析

4)  可选配数字化植物培养盆或根系培养盒，持续监测土壤水分温度、重量、植物生长、光合效率、PI、茎流等生理生态指标，可自动采集土壤渗漏水并进行土壤营养盐分析

5)  模块式结构，具备系统扩展功能，系统平台自动万向脚轮，方便移动

6)  可远程控制、自动运行数据采集存储等功能

技术指标：

1)  控制单元为嵌入式操作系统，全中文触控屏，方便系统调试、试运行等

2)  用户可通过PC端全中文软件实现远程操控相机及平台

3)  支持组合命令：可设置10条命令，实现无人值守工作

4)  串口通信和TCP/IP协议，实现与单片机的通信控制和远程通信协议

5)  标配自动扫描轴60度倾斜，可防止倾斜根系培养盒的土壤扰动影响

6)  自动扫描轴推扫速度与精度：1-90mm/s可调，移动精度1mm

7)  有效扫描范围：120cm

8)  样品托：标配根盒40cm宽

9)  样品托盘适配于单个大培养盆或多个小培养盆，可根据客户需求定制

10)      VNIR高光谱成像：

a)  波段范围：400-1000nm

b)  波段数：224通道

c)  光谱分辨率：FWHM 5.5nm

d)  空间分辨率：1024x1024

e)  信噪比600:1

f)  分析参数：可成像测量分析作物生化、生理指标如叶绿素含量、花青素含量、胡萝卜素含量、光利用效率、健康指数、覆盖度、胁迫等20多个参数

11)      SWIR近红外高光谱成像：

a)  波段范围：900-1700nm

b)  波段数：224通道

c)  光谱分辨率：FWHM 8nm

d)  空间分辨率：640x640nm

e)  信噪比：1000:1

f)  分析参数：可成像测量分析NDNI归一化N指数、NDWI归一化水指数、MSI水分胁迫指数等

12)      红外热成像（选配）：

a)  分辨率：640x512像素

b)  温度范围：-25°C－150°C

c)  灵敏度：0.03°C（30mK）@30°C

d)  光谱范围：7.5－13.5μm

e)  传感器：非制冷红外焦平面感应器，已多点校准（具校准证书）

f)  1-14倍数码变焦

g)  软件具备调色板（自然、彩虹、灰度、梯度等14种颜色组合）、差值技术、温度范围设置、等温线模式、选区分析（点、线、多边形等）、温度扫描（显示所选线的温度分布曲线等）、剖面温度、时间图等；可显示图片信息；具备报告模式等；可进行控制设置

13)      RGB彩色成像：分辨率18MPixels，10 倍光学变焦

14)      叶绿素荧光成像单元（选配）：

a)CCD帧频50fps，分辨率720x560像素，8.6x8.3μm像素

b)  光化学光1000μmol.m-2. s-1可调，饱和脉冲3900μmol.m-2. s-1

c)  可自动运行Fv/Fm、Kautsky诱导效应、荧光淬灭分析、光响应曲线等

d)  50多个叶绿素荧光自动测量分析参数，包括：Fv/Fm、Fv’/Fm’、Y(II)、NPQ、qN、qP、Rfd、ETR等，自动形成叶绿素荧光参数图

e)  自动同步显示叶绿素荧光参数及参数图、叶绿素荧光动态曲线、叶绿素荧光参数频率直方图

15)      可选配空气温湿度、光照及顶部激光测距模块

左图为顶部冠层高光谱成像（NDVI），右图为根系成像提取