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pw-400四寸探针台探针台失效分析probe station探针测试电性测试失效分析

产品报价:询价

更新时间:2024/1/16 13:05:10

地:台湾

牌:ADVANCED

号:wp-400

厂商性质: 生产型,

公司名称: 仪准科技(北京)有限公司

产品关键词: 半导体测试   探针测试   probe station   探针台   失效分析  

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半导体领域探针台pw-400四寸探针台探针台失效分析probe station探针测试电性测试失效分析

        在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中,经常要量测内部的电参数,由于制成的越来越低,没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探测信号。手动分析探针台能很好的帮助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在中国推出手动分析探针台10年历史,销售实绩700多台,并且每年的销量稳居行业销量榜首。

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型号:   PW-600/PW-800

规格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y电动移动行程150mm(200mm)
chuck粗调升降8mm,微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域:6寸/8寸Wafer、IC测试之产品

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型号:   PW-400                              
规格:
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm(选项)
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2~4颗
适用领域:4寸Wafer,如晶圆厂、LED、学术单位等

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 RF高频探针台

      

东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探针材料:BeCu/Tungsten

 

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