PHL应力双折射测量系统 WPA-200

PHL应力双折射测量系统 WPA-200

PHL应力双折射测量系统 WPA-200简介：

PHL应力双折射测量系统 ，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。

PHL应力双折射测量系统 WPA-200参数：

型号                 WPA-200                             WPA-200-L

测量范围                                 0-3500nm

重复性                                     <1.0nm

像素数                                 11万

测量波长                             523nm,543nm,575nm

产品尺寸         310x466x605.5mm                 450x593x915.5mm

观测到的最大区域     100x136mm                         250x340mm

重量                             20kg                                         26kg

数据接口                     GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）

电压电流                             AC100-240V（50/60Hz）

软件                                             WPA-View

适合树脂成型镜片检测系统WPA-200-MT

专为小镜头（10mm）双折射测量而设计

配备自动选择圆形区域，相位差值传递

失败判断功能，特别适合树脂镜片成型

的质量控制。

主要参数表

型号                                 WPA-100-S

测量范围                         0-3500nm

重复性                              <1.0nm

像素数                             11万

测量波长                 523nm,543nm,575nm

产品尺寸                         200x275x309.5mm

观测到的最大面积             11.6x15.8mm

自身重量和电源重量                 4kg 和9kg

电压电流                         AC100-240V（50/60Hz）

软件 WPA-View