Photonic-lattice纳米级膜厚测量仪ME-210

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更新时间：2023/1/7 17:49:43

产地：日本

品牌：Photonic-lattice

型号：ME-210

厂商性质：生产型,贸易型,服务型,

公司名称：北京欧屹科技有限公司

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Photonic-lattice纳米级膜厚测量仪ME-210

应力双折射仪，能够快速、测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。

根据应用不同，我们特别开发出5款不同的的膜厚测试仪/椭偏仪，每一款产品各具不同的特点。

Photonic-lattice纳米级膜厚测量仪ME-210

高速，高解析度的膜厚测量系统

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