普林斯顿微区扫描电化学VersaScan
产品报价:询价
更新时间:2014/8/25 14:49:17
产地:美国
品牌:普林斯顿应用研究
型号:VersaScan
厂商性质: 生产型,服务型,
公司名称: Solartron,PAR-Ametek
阿美特克 : (13301926070) (010-85262111-15)
(联系我时,请说明是在来宝网上看到的,谢谢!)产品报价:询价
更新时间:2014/8/25 14:49:17
产地:美国
品牌:普林斯顿应用研究
型号:VersaScan
厂商性质: 生产型,服务型,
公司名称: Solartron,PAR-Ametek
阿美特克 : (13301926070) (010-85262111-15)
(联系我时,请说明是在来宝网上看到的,谢谢!)仪器简介:
VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。
它是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率,长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上,辅助选件包括,如电位计,压电振动单元,或者激光传感器,为不同扫描探针试验,定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起,由以太网来控制,保证小信号的精确测量。
它 是一个模块化配置的系统,可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试:
Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜
Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试
Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试
Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试
Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试
Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试
以上每项技术使用不同的测量探针,且安装位置与样品非常接近,但是不接触到样品。随着探针测试的进行,改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图,针对不同技术,该图可以呈现微区电化学电流,阻抗,相对功函或者是表面形貌图。
应用:
不锈钢和铝等材料的点蚀检测、成长过程在线监测等;
有机和金属涂层缺陷和完整性研究;
金属/有机涂层界面的腐蚀的机制与检测;
有机涂层的剥离和脱落机制;
钝化处理的不锈钢焊接热影响区的电位分布;
干湿循环的碳钢和不锈钢的阴极区和阳极区的分布行为;
薄液层下氧还原反应和金属的腐蚀过程的特征;
模拟不同大气环境的腐蚀电位在线监测;
铝合金等材料在大气环境中局部腐蚀敏感性;
铝合金的丝状腐蚀(filiform corrosion);
硅烷L-B膜修饰金属表面的结构和稳定性;
锌-铁偶合金属界面区的电位分布特征;
磷化处理锌表面的碳微粒污染检测;
检测微小金属表面的应力分布和应力腐蚀开裂;
检测金属和半导体材料微小区域的表面清洁度,缺陷,损伤和均匀程度;
研究和评价气相缓蚀剂性能;
电化学传感器;