蔡司三坐标O-INSPECT广泛应用于真正3D测量的绝佳光学与接触式测量技术。
光学测量技术仅受特性的视觉识别程度所影响。这取决于多种因素，例如零件自身的形状、颜色和表面质量，以及光学检测系统的质量、照明情况等。卡尔-蔡司蔡司三坐标O-INSPECT奠定了光学测量的基础，即基于多功能与柔性的Discovery镜头、合适的照明系统及共聚焦白光传感器。
蔡司三坐标O-INSPECT完美地结合了速度、顶级光学传感器的高分辨率以及接触式测量系统的3D探测功能。迄今为止，O-INSPECT实现了4类独立的测量系统功能，即显微镜、投影仪、坐标测量机与轮廓测量仪。同时，O-INSPECT能够实现一台设备一次设置即可完成全部的测量任务。多功能性使得O-INSPECT成为医疗技术、塑料技术、电子与精密工程领域的理想检测方案。由于应用了密闭式导轨及集成了减振系统，蔡司三坐标O-INSPECT可直接在车间内的全封闭导轨和集成减振系统中使用。
O-INSPECT中的每个组件皆体现出了顶级的性能，完美的结合确保了最佳的效率。各类检测任务可在同一台设备中完成，因此采用O-INSPECT可省去多次不必要的重复检测。更重要的是，O-INSPECT简易和一致的操作理念可大大降低培训要求。
区别于测量领域内普遍应用多个定焦镜头的情况，O-INSPECT的Discovery12x变焦镜头提供多达10种放大倍数可供自由选择与切换。因此测量时无需更换镜头，使得测量速度更快，每种放大倍数下均可确保最佳的重复再现性。与此同时，对于照明光强与聚焦技术Discovery亦体现了无可比拟之优势。传统的远心镜头通常功能有限，其Z向探测精度较低，而Discovery的不同之处在于，作为绝对的远心技术，其处于光强重要性略低的中间倍率等级上。
O-INSPECT对于非接触3D细微结构的高效测量，可选配共聚焦白光传感器，白光传感器可用于测量反光或透明的对象。理想的照明取决于被测零件或特性，即轴向和侧向照明、垂直和倾斜的照明角度或是由底部进行照明。O-INSPECT配备全面的照明单元确保其适用于所有的测量任务。
O-INSPECT配备灵活、快速及高精度的VASTXXT3D连续扫描测头，不仅可实现单点触测，更可高效精确测量各类形状误差。VASTXXT支持30～125?mm测针，可实现深孔的快捷测量，40mm的侧向测针可确保最佳的柔性，VASTXXT甚至可在不更换测针的条件下实现复杂工件快速测量。
O-INSPECT支持CNC运行中的测头自动切换，甚至在一个检测元素中亦可实现。即便手动切换，该测针亦可自动识别，无需耗时的重复校准。
O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能，可于同一视图中同时显示影像、CAD模型及测量值，同时可查看实际状态、理论状态及偏差，更快捷地诠释测量结果。同时，CALYPSO软件通过与其他蔡司三坐标的程序共享，可方便快捷地以同一测量策略完成所有的测量任务。
蔡司三坐标O-INSPECT完美地结合了速度、顶级光学传感器的高分辨率以及接触式测量系统的3D探测功能，是您测量各类中小型零部件的理想之选。
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