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万深SC-G考种及千粒重自动分析仪(玉米考种A3高配)
万深SC-G考种及千粒重自动分析仪(玉米考种A3高配)
  • 万深SC-G考种及千粒重自动分析仪(玉米考种A3高配)

万深SC-G考种及千粒重自动分析仪(玉米考种A3高配)

产品报价:询价

更新时间:2023/8/25 9:27:06

地:浙江

牌:万深

号:SC-G

厂商性质: 生产型,

公司名称: 杭州万深检测科技有限公司

产品关键词:

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沈虹 : (13588031703) (0571-89714590)

(联系我时,请说明是在来宝网上看到的,谢谢!)


 

主要用途:SC-G型自动种子考种分析及千粒重仪系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。本配置专用于玉米籽粒、果穗、截面的精确考种分析(紫黑色玉米不能测)。内置支持网上在线升级的模块。
技术指标
2.1
.成像特性:
A3幅面最高分辨率1600dpi × 1600dpi、紫光M1彩色扫描仪。扫描分析的种粒直径0.2520mm。适用分析工作区尺寸:A3幅面(431.8mm×301mm)。可同时成像分析10个玉米果穗、35个玉米截面、1000粒左右的玉米籽粒。
图像调整:具有图像亮度、对比度、饱和度调整功能,调整值自动记忆保存
图像观察:具有任意放大、缩小、局部观察功能
2.2
.籽粒数粒速度、精度:
自动数粒速度:15003000/分钟,数粒误差≤±1%,监视修正即达100%正确。自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数(长、宽、长宽比、面积、等效直径、周长等),以及其平均值。自动千粒重分析的精度误差:≤±0.5%。具有对被分析目标颜色、形状进行自学习和再学习,并实现自动分类的特性。
2.3
.果穗、截面分析速度、精度:
同时成像分析玉米果穗:10//分钟、玉米截面:35//2分钟。
自动测出各玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均行粒数、粒厚、截面穗行数、穗粗、轴粗,以及其平均值,可测出各玉米截面上的平均粒长、平均粒宽等参数。
2.4
.具有被测样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口,电脑插上条码枪即可刷入样本条码编号;电子天平上的被测样本重量数据可一键送到电脑保存为EXCEL表。
2.5
.全程电脑控制,高效、准确、简便易用,真正一键式操作,鼠标一点,结果即现。
2.6
.辅助删补:用鼠标选择增加/删除,或直接用鼠标在屏上手工计数,以确保100%正确目标区的个性化计数:对工作区视野中任选范围或矩形范围内的计数。
2.7
.分析数据导出:分析图像结果可保存,自动形成总报表,统计分析结果能输出至Excel
供货配置表(电脑另配)

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