CAMECA 高分辨二次离子质谱仪（CAMECA NanoSIMS 50L）

NanoSIMS 50L
专门针对同位素以及痕量元素的高空间分辨率的二次离子探针。

在CAMECA 各系列的二次离子质谱（SIMS）中，NanoSIMS 50L 因拥有很高的横向分辨率而与众不同。仪器设计独特：一次离子源与二次离子提取腔体采用光学共轴设计；而磁质谱部分也从一开始就采用多接受模式。
 
独特的性能
NanoSIMS 50L 同时给出如下各项关键性能，而现有的其他仪器或技术只能实现其中的个别性能。
- 高空间分辨率 （最小到50 nm）
- 高灵敏度 （元素分布图像ppm）
- 高质量分辨率（M/dM）
- 并行接受7个质量
- 快速数据接收（DC mode, 非脉冲模式）,
- 可分析绝缘样品Analysis of electrically insulating samples without problem.
- 同位素分析精度可达千分之零点几。
 
应用领域
微生物学：
The NanoSIMS 50L 开启了一条新路径，能够将系统进化识别（phylogenetic identity，with FISH or El-FISH）与单细胞的新陈代谢功能结合起来（using stable isotope labeling) 以便研究环境对微生物群体的影响。
N. Musat, MPI Bremen, Germany.
 
细胞生物学：
因具有的50nm分辨率以及能够测同位素比的能力，NanoSIMS 50L 能够针对单个细胞，对那些做了同位素标识的分子在这个个细胞内部聚集和流动情况进行测量。
C. Lechene and D.P. Corey, Harvard Medical School & Brigham Women's Hospital, USA.
 
地质和空间科学：
NanoSIMS 50L可以深入亚微米（sub-micron）区域，针对对来自于行星间的尘埃粒子、陨石以及矿物截面内部的小粒子或夹杂，精确测定元素和同位素。在使用多个法拉第杯以及几个微米大小束斑的配置下，所给出的同位素比的精度以及外部重复性均小到千分之零点几。
J. Moreau et al., SCIENCE.
 
材料研究：
归功于高质量分辨率下的高灵敏度（没有质量干扰），NanoSIMS 50L 能够以50nm的横向分辨率对痕量元素（掺杂）做元素分布图和定量测量，包括电绝缘材料。
H. Haneda, NIMS, Japan.