现在位置：首页>计量器具>测绘/长度测量器具>激光干涉仪>
德国BMT WLI LA 白光干涉仪
德国BMT WLI LA 白光干涉仪
价 格：询价
产 地：德国更新时间：2021/9/10 14:45:14
品 牌：BMT型 号：WLI LA
状 态：正常点击量：2645
联 系 人：张工
电 话：010-8811-5228/6879
传 真：010-88142618
等 级： (第 16年)
性 质：生产型,贸易型,
联系我时请说在来宝网上看到的,谢谢！
·可测量粗糙或光滑表面
·测量结果不受被测物颜色和材料影响
·几秒钟完成测量
·测量面积：14 x 10 mm
· 测量范围：100 / 150 µm
·横向分辨率：30 µm
·垂向分辨率：³1 nm
·高数字孔径
产品参数
适用于较大面积平面的表面结构形状测量
测量头
·光源 LED
·测量范围 100/150µm
·垂直分辨率 ³ 1nm
·横向分辨率 30µm
·测量面积 13.9 x 10.4[mm]
产品介绍
WLI LA 白光干涉仪
本仪器比以往的显微镜可测面积大得多，使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择大约1.5 cm²的测量面积代表了最适宜的平衡点。干涉仪可测量大的测量面积使其用来主要进行平面度测量，而对于微观结构则会获取太多无效数据。本仪器采用数字式相机，用户可以选定动态范围8-14位的测量范围，和各种帮助操作者的辅助功能。
应用：
·用于表面形状、平面度和轮廓测量
特点：
·可测量粗糙或光滑表面
·测量结果不受被测物颜色和材料影响
·几秒钟完成测量
·测量面积：14 x 10 mm
· 测量范围：100 / 150 µm
·横向分辨率：30 µm
·垂向分辨率：³1 nm
·高数字孔径
优势：
·快速分析表面构造
·平面度评估
·自动数据采集和处理
·大的测量面积
技术参数：
适用于较大面积平面的表面结构形状测量
测量头
·光源 LED
·测量范围 100/150µm
·垂直分辨率 ³ 1nm
·横向分辨率 30µm
·测量面积 13.9 x 10.4[mm]
