三、TA.XTC-20质构仪技术指标
1.力量精度:0.0001g,可使用标准砝码进行力量校正。
2.位移精度:0.0001mm,测试臂移动距离:400mm;
3.检测速度:0.001~50 mm/s,速度解析度:0.001mm/s.
4.数据采集率:不低于500组/秒,每组4个通道同时读取。
5.测试方法:单次测试、 测试,全质构测试等,数据分析时,用户可直接指选所要的参数,内置软件即可自动计算结果。
6.仪器操作:(1)实验过程通过7.0英寸大触摸屏完成;(2)通过软件操作,数据直接呈现,无需编程。
7.实时显示:屏幕显示实时变化曲线,曲线含有标度,可放大缩小查看曲线。用户直观看到检测数据的变化。
8.结果分析:可选配触摸屏上自动进行曲线的结果分析。具有检测数据保密功能。
9.安全措施:数据可紧急停止、上下极限控制装置、力量感应元过载保护。
10.售后服务要求:仪器免费保修1年,免费安装、培训,直至能熟练独立操作,终身维护。
11.配置要求:质构仪主机(可选配触摸屏)、探头转换器、探头、备品配件包、应用方法库、操作手册等。