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美国solar Metrology SMX-BEN太阳能光伏薄膜电池镀层测厚仪
美国solar Metrology SMX-BEN太阳能光伏薄膜电池镀层测厚仪
价 格：询价
产 地：美国更新时间：2021/9/10 14:45:14
品 牌：Solar Metrology型 号：SMX-BEN
状 态：正常点击量：2564
联 系 人：丁成峰
电 话：021-69005726
传 真：021-61732104
等 级： (第 17年)
性 质：生产型,
联系我时请说在来宝网上看到的,谢谢！
美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
1. 全球唯一能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。
2. 超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品
质。
4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种
5. X-Y-Z三轴自动定位，轴承最长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div>
6. 具有表面相对等距自动调整系统
7. 采用自然光，LED白光，无色差
8. 采用最新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器
9. 具有防撞安全装置
10. 具有操作时辐射安全装置
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
产品参数
美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
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X射线发生部
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电压
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最大50kV，多段电压切换
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电流
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4-1000μA，可做自动调整设定
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准直器
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共五个
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侦测器
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Pin or Si
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检测器
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冷却方式
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电子冷却
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五种滤波器自动切换
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电源
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AC110~240V, 50/60 Hz
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应用领域：
| 镀层厚度分析 |
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(1)分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。
(2)分析CdTe之各镀层的厚度及成份同时测量。
(3)三、五族元素各镀层的成分比例及厚度分析。
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产品介绍
美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
其他型号：
薄膜太陽能檢測設備：
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯一能提供NIST標準樣品，快速(60秒內)非破壞檢測。
● 生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用，直接OEM與生產製程端整合。
● 即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。
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桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN
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桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN
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SMX-FPV
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生產製程專用模組 SMX-FPV
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即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI 、產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH
