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商品编号:48349
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美国solar Metrology SMX-BEN太阳能光伏薄膜电池镀层测厚仪

价    格:询价

产    地:美国更新时间:2021/9/10 14:45:14

品    牌:Solar Metrology型    号:SMX-BEN

状    态:正常点击量:2564

13701600767
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上海益朗仪器有限公司

联 系 人:丁成峰

电     话:021-69005726

传     真:021-61732104

等     级: (第 17年)

性     质:生产型,

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美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪

 

 

 

1.   全球唯一能提供NIST等级的标准样品,与美国NREL共同合作。
2.   超大样品室,H:56cmXW;54cmXD74cm
3.   可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数,可设定多点分析,以确定制程品
质。
4.   针对CIGS各种镀层材质的滤光片,共5种
5.    X-Y-Z三轴自动定位,轴承最长距离为8”X8”X6”,并有自动聚焦弁?/div>
6.   具有表面相对等距自动调整系统
7.   采用自然光,LED白光,无色差
8.   采用最新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器
9.   具有防撞安全装置
10. 具有操作时辐射安全装置

11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。


产品参数

美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪

X射线发生部
电压
最大50kV,多段电压切换
电流
4-1000μA,可做自动调整设定
准直器
共五个
侦测器
Pin or Si
检测器
冷却方式
电子冷却
五种滤波器自动切换
 
电源
AC110~240V, 50/60 Hz

应用领域

镀层厚度分析

(1)分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。
(2)分析CdTe之各镀层的厚度及成份同时测量。
(3)三、五族元素各镀层的成分比例及厚度分析。


产品介绍

美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪

 

 

 

其他型号:

薄膜太陽能檢測設備:
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。

● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯一能提供NIST標準樣品,快速(60秒內)非破壞檢測。
● 生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用,直接OEM與生產製程端整合。
● 即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測,可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上,可依現場Layout 做不同方式進樣。




 

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桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN
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桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN
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SMX-FPV
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生產製程專用模組 SMX-FPV
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即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI 、產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH


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