现在位置：首页>物性测试仪器>无损检测仪器/设备>测厚仪>
X-Strata980荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
X-Strata980荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
联 系 人：朱铱霖
电 话：0755-86354829
传 真：0755-29182559
等 级： (第 17年)
性 质：生产型,贸易型,
联系我时请说在来宝网上看到的,谢谢！
这款最新研发的产品X-Strata980运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量，结合大功率X射线光管和高分辨率探测器，检测下限达到PPM精度，并具有超强的分析模型。牛津仪器新产品研发中心总监Dr. Andy Ellis表示，这款新产品的发布标志着牛津仪器已经成为全球唯一的能提供包括便携式、台式（微聚焦、块状分析）XRF分析仪器的供应商，能够为客户提供针对RoHS筛选的完整解决方案。
产品参数
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
· 100瓦X射线管
· 25mm2PIN 探测器
· 多准直器配置
· 扫描分析及元素分布成像功能
· 灵活运用多种分析模型
· 清晰显示样品合格/不合格
· 超大样品舱
同时分析元素含量和镀层厚度
