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美国SCI Filmtek 1000薄膜测厚仪
美国SCI Filmtek 1000薄膜测厚仪
价 格：询价
产 地：美国更新时间：2021/9/10 14:45:14
品 牌：SCI型 号：Filmtek 1000
状 态：正常点击量：1745
联 系 人：蒋新浩
电 话：0571-82733525
传 真：0571-82733525
等 级： (第 8年)
性 质：贸易型,服务型,
联系我时请说在来宝网上看到的,谢谢！
特点
测量功能
FilmTek 1000/1500将SCI的广义材料模型与先进的全局优化算法结合在一起，以便同时测定下列薄膜常数：
· 多层膜厚
低成本
FilmTek 1000/1500的价格是同类仪器相比更具竞争力
软件
FilmTek 1000的测量分析软件，无须薄膜光学设计或测量技术方面的经验。
产品参数
测量参数 | FilmTek? 1000 / 1500 |
Index of Refraction(at 2μm thickness) 折射率（2μm厚度时） | ±0.005 |
Thickness Measurement Range 膜厚范围 | 10nm-200μm |
Spectral Range (nm) 光谱范围 | 380-1000 |
Reflection 反射 | Yes |
Transmission 透射 | Yes (1500) |
Power Spectral Density | Yes |
Multi-layer thickness | Yes |
Index of Refraction | Yes |
Extinction (absorption) Coefficient | Yes |
选购可在标准型的基础上拓展 |
产品介绍
美国SCI Filmtek 1000薄膜测厚仪
FilmTek 1000系列是一种精确和负担得起的解决方案，用于薄膜厚度和折射率的常规测量。它将光纤分光光谱仪与直观、高性能的材料建模软件相结合，使日常测量任务更加可靠、简单。
FilmTek 1000的配置包括一个小的光斑，配备手动或可选的自动XY平台，以适应75-300毫米晶圆尺寸。FilmTek 1500可以测量透射和反射方式测量，是透明衬底的理想之选。
FilmTek软件包括完全用户定制的映射功能，可以快速生成任何测量参数的2D和3D数据映射。除了用户定义的模式外，标准模式还包括极模式、x-y模式、rθ模式或线性模式。
