性能特点
1、 工业级摄像头高速采集，光学显微镜放大成像，图像快速显示于电脑，直接观察颗粒形貌，专用软件进行颗粒数据处理。
2、 测量范围：0.5μm～3000μm
3、 全平场消色差物镜，最大分辨率0.07微米，最大光学放大倍数1600倍，打印最大倍数4000倍(A4幅面)
4、 提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据，配有(30)多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。
5、 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等，提高分析分辨率，网格标注颗粒尺寸等功能，使测试结果更真实可靠。
6、 仪器分二种型号，技术原理、参数都相同，JX-2000A型颗粒图像测试仪配置透射显微镜，JX-2000B型颗粒图像测试仪配置透反射显微镜，后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。

测量范围：0.5μm～3000μm
全平场消色差物镜，最大分辨率0.07微米，最大光学放大倍数1600倍，打印最大倍数4000倍(A4幅面)

JX-2000颗粒图像测试仪

JX-2000型颗粒图像测试仪，能准确直观颗粒形貌，并进行颗粒数据处理，适用于控制分析产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像机、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。适用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金刚石、碳粉、药粉、涂料、水泥、硬质合金、催化剂、云母粉、填料等各种粉末物料颗粒的形貌观察和粒度分析。