快速
业界在扫描速度、分辨率、热漂移和噪声水平上达到均衡的标杆产品
快扫和自动化模式可将大量测试集成在预设模式下，达到测试效率
同一个AFM平台上的多种关联测量技术和模式，适用多种样品尺寸或多个样品，无可比拟的可扩展性
商用高分辨率
Dimension XR 原子力显微镜系统与独有的 PeakF0rce SECM探针结合，提供小于100nm的空间分辨率，该模式提供了对纳米颗粒，纳米相以及纳米微孔研究的新的方式，达到了商用仪器上高的灵敏度与空间分辨率。
多功能性
可根据您具体的研究要求为 Dimension XR 系统进行配置和添加功能，以满足现在或者将来的应用需求。结合 Bruker 多项 AFM 方面的技术和模式，以及模式增强功能，Dimension XR 系统提供了仪器性能和出众的测量表现，帮助您在纳米研究领域更上一层楼。
