1) Nano-R2型AFM是10万美金以下进口设备中唯一配备2英吋圆形样品台与自动控制样品台的原子力显微镜, 特别适合对2英吋大样品的测量。
2）高性能的闭环式（Closed Loop）扫描器, 定位精准, 误差小于1nm。
3）可选两种扫描器：Light-Level扫描器和Crystal Force扫描器。
4）Crystal Force扫描器为

高性能闭环平板式扫描器
X-Y扫描：探针扫描( Tip Scan)
范围：>80um
线性：<1%
Z-Scan:
范围：>8um
分辨率：<0.1nm
彩色视频显微镜
放大倍数：大于1000
自动放大/聚焦：4
视野：140um*190um
分辨率：1.5um
自动X-Y样品台：
范围：25.4 x 25.4 mm
步长：<3um
回转速率：2.5mm/sec
扫描模式：
—接触模式
—振动模式
—非接触模式
—侧向力模式
—材料感应模式
—力/距离曲线
选配模式:
-电学模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用独立的锁相放大器探测
-导电模式(SHARK):电流测量范围: fA-mA
-磁力模式
-纳米刻蚀 Dip-Pen Nanolithography
-探针加热模式( SThM, 探针温度最高可达700摄氏度)
-全新纳米颗粒粒径分析软件
-恒温恒湿环境控制箱
-脉冲力模式 (Pulse Force Mode): 此为PNI公司独家开发出来, 针对软物质与黏弹性之测量

PNI 公司背景： 1997 年创建时名称为Pacific Scanning，是一家专业生产AFM 控制器和其它零部件的企业，主要为全世界大型AFM 公司（包括Thermo Microscopes 公司）提供代工（OEM）服务，2001 年Thermo 被收购后其技术高管（Gary Aden 和Paul West等）便入主Pacific Scanning 公司，并更名为现在的Pacific Nanotechnology 公司。PNI 公司为了更好地服务于中国，与实密国际贸易（上海）有限公司建立了合作关系。PNI 公司融合了美国最新电子学技术和日本Toyo 公司多年SPM 技术支持的实际成果率先开发出高线形扫描器SPM，能够满足科研和工业用户的多方面性能和操作的需要。所有的型号都配备高性能的“Closed Loop”（闭环）控制线性扫描器。
Nano-R2™型扫描探针显微镜（SPM）系统是用于科学实验室的第二代扫描探针显微镜。它功能强大，是一款获取图像和检测纳米级特征结构的多用途扫描探针显微镜。Nano-R2™ 扫描探针显微镜可以同时使用两个版本的图像采集软件：X-pert™ 专家级和EZ Mode™简易级，分别适用于专家级用户和初学用户。Nano-R2™包括所有AFM采集图像所需的主机、控制单元、集成设计的光学视频显微镜和自动化XYZ样品台，以及图像显示软件和分析软件。