直接分析法和离子淌度TOF MS在环境分析中的适用性研究

Michael McCullagh and Ramesh Rao

沃特世公司（英国曼彻斯特）

简介

自第一台市售离子淌度质谱仪（SYNAPT HDMS，沃特世公司）面世以来，人们对离子淌度分离的关注持续升温，该质谱仪以行波方式进行离子淌度分离（IMS）。随着技术的进步，Waters^® SYNAPT G2-S引进了改良的检测系统，从而提高了离子淌度分离度，改善了检测灵敏度（StepWave）。各方面技术的不断进步使得分析化学家们可以利用离子淌度光谱法结合质谱法来应对他们所面临的分析难题。

本应用纪要对直接分析法（DA）结合IMS/MS的应用进行了研究，其中目标样品以直接注入的方式进样并展示出了IMS的优势。离子淌度可与多种直接分析技术相结合，例如ASAP、DART和DESI，以通过运用离子淌度技术实现分离。

沃特世解决方案

SYNAPT^® G2-S质谱仪

High Definition Mass Spectrometry™（HDMS™）

StepWave™离子传输设备

DriftScope™淌度软件

应用优势

■ 将直接分析法与离子淌度产生的正交分离相结合可拓展直接分析技术的适用范围。

■ 无需采用色谱法即可实现与基质干扰物的分离。

■ 常规质量测量误差<2 ppm，极大地提高了元素分配组成的正确性和结构解析数据的可靠性。

■ 利用离子淌度技术分离同分异构体，并且达到淌度分离后可生成相应的单个MS谱图和MS/MS谱图。

■ CO₂作为迁移室气体能够提高离子淌度分离度。

下载完整应用纪要请点击：http://www.waters.com/waters/library.htm?cid=511436&lid=134708478&locale=zh_CN