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ATE在生产过程中自动化测试中的作用

成都中冷低温科技有限公司2023年10月11日 8:53 点击:197

         PXI—针对基于PCI/PCIe的模块化测试仪器和开关平台的开放式工业标准。

         接收器—海量互联面板,可在被测设备和测试仪器之间提供连接接口。

         信号路由系统—在被测设备和测试仪器之间的路径上的一切信号,包括开关元器件和任何外部的连接器和线缆。

         产品在工作台上接受测试时,通常测试环境是优良的,产品与激励和测量设备之间具有很短的、直接的线缆连接。但在生产过程中进行测试时,被测设备(DUT)和测试仪器之间可能具有很复杂的连接网络,包括线缆、信号分配装置、信号开关子系统以及连接器转接面板和特定设备的适配器等。所有这些器件对于在产品开发中工作台上的仪器和产品之间直接往返的原始信号的品质不仅不能提升,相反地可能会造成信号品质下降。根本上说,所有的线缆、接口和开关应该被当作是测试仪器的扩展,并且在评估仪器性能的时候必须统筹考虑。

         在研发新产品时,经常需要在实验工作台上手动操作来验证产品设计。一旦完成了对产品设计的验证,满足产品规格和性能要求的任务就被转交给生产测试工程团队来负责。理想的情况是,产品在设计之初就已经将测试的种种要求统筹考虑,但实际上产品测试只能在产品设计好后进行,因此问题往往会在后期逐渐暴露。测试工程团队会创建一个针对产品的测试流程,这项流程属于产品制造过程的一部分,并且测试流程需要足够高效来支持产品制造的要求。这项流程通常是自动化的,从而加快测试以及减少由于测试技术人员的参与而人为造成的误差。在计算机上运行的软件代码控制机架上的测试仪器,这些仪器为被测设备提供激励并且测量来自被测设备的反馈。创建自动测试平台并不容易,往往会因为要求测试平台要足够多功能来支持不同类型产品而使测试变得难上加难。针对不同产品,系统输入输出信号会通过适配装置路由到被测设备,因而不可避免的会引入一些信号连接点,这些连接点可能会破坏测试信号的完整性。

         成都中冷低温科技提供高质量高性价比的IC芯片温度冲击测试机TS-780,可以精准快速的实现电子芯片等电子元件的高低温循环测试Thermal cycle、冷热冲击试验Thermal stock、老化试验、可靠性试验等。TS-780的温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒,并有更广泛的温度范围-80℃到+225℃;经长期的多工况验证,满足更多生产环境和工程环境的要求。


(来源: 成都中冷低温科技有限公司


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