影响涂覆层测厚仪测量精度因素
- 翁开尔有限公司2013年9月28日 16:40 点击：980
当测头与被测式样接触时,测头装置所产生的高频电磁场, 使置于测头下的金属导体产生涡流,其振幅和相位是导体与测头之间非导电覆盖层厚度的函数. 即该涡流产生的交变电磁场会改变测头参数,而测头参数变量的大小,并将这一电信号转换处理,即可得到被测涂镀层的厚度.
影响其测量精度的因素如下
(1) 覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;
(2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;
(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;
(4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.
(5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;
(6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;
(7) 涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触.。
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